能量色散與波長色散X射線熒光光譜儀（XRF）的工作原理與優勢邊界

　　工作原理

　　能量色散型XRF（ED-XRF）通過半導體探測器直接接收樣品受激發后產生的特征X射線，按能量轉換為電信號，經電子學電路處理后形成元素特征譜線。其核心在于無需分光晶體，通過探測器能量分辨率區分不同元素，實現多元素同步檢測。

　　波長色散型XRF（WD-XRF）利用晶體衍射效應，將特征X射線按波長分散成不同譜線。樣品受激發后，分光晶體將不同波長的X射線分離，探測器接收特定波長信號，結合布拉格定律實現元素分析。其核心在于分光晶體對波長的精確篩選，確保高分辨率檢測。

　　優勢邊界

　　分辨率與靈敏度

　　WD-XRF采用分光晶體，可有效分離相鄰元素特征譜線，分辨率更高，尤其適合痕量元素分析（檢測限達μg/g級）。ED-XRF分辨率相對較低，但在高能光子范圍內表現更優，且輕基體條件下檢測限可達10~10²μg/g級。

　　分析速度與操作便捷性

　　ED-XRF無需更換分光晶體，可同時檢測所有元素，分析速度快（60-100秒完成多元素測定），操作簡便，適合生產線快速篩查。WD-XRF需根據元素選擇晶體，單元素分析耗時較長（2-5分鐘），但多道分析器可縮短多元素檢測時間。

　　樣品適應性

　　ED-XRF對樣品形狀無特殊要求，可直接分析固體、粉末、液體，適合不規則樣品檢測。WD-XRF需樣品表面平整（如固體打磨、粉末壓片），以確保檢測精度，但制樣設備易獲取，制樣過程標準化。

　　設備成本與維護

　　ED-XRF結構簡單，功率低（<100W），無需大功率冷卻系統，設備成本較低（4萬−15萬），維護簡便。WD-XRF配備大功率X光管（1-4kW）及精密分光系統，設備成本較高（10萬−40萬），但使用壽命長（>10年），長期穩定性更優。

　　應用場景

　　ED-XRF：適用于工業質檢、環境監測等需快速檢測的場景，如塑料制品RoHS合規性驗證、礦石品位在線監控。

　　WD-XRF：適用于科研、地質勘探等需高精度分析的場景，如土壤重金屬含量測定、礦物成分解析。